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Moderne Rietveld-Analyse in der praktischen Übung

Kurs-ID: 389/23

Themen-Highlights

Rietveld Analyse

Paarverteilungsfunktion

Strukturbestimmung

Quantifizierung

Sequentielle/parametrische Verfeinerungen

Ziele & Inhalte

Die Rietveld-Analyse hat in den letzten Jahren gewaltige Fortschritte gemacht, wobei laufend neue Anwendungsfelder erschlossen werden. Ziel des Kurses ist es, den Teilnehmern die moderne Rietveld-Analyse in Theorie und Praxis anhand einer Reihe von ausgearbeiteten Beispielen näherzubringen. Nach dem Kurs sollen die Teilnehmer in der Lage sein, die Möglichkeiten und Grenzen der Methode zu kennen und einfache Rietveld-Analysen selbstständig durchführen zu können.


Highlights des Kurses:

  • Grundlagen der Rietveld-Analyse
  • Reflexprofilfunktionen, Fundamentalparameter, Pawley/LeBail-Fit
  • Bestimmung der Instrumentenfunktion
  • (An)isotrope Linienverbreiterungen, Mikrostrukturparameter
  • Indizierung und Raumgruppenbestimmung
  • Korrekturfaktoren und ihre Bedeutung
  • Globale anstatt lokaler Optimierung (Kristallstrukturbestimmung)
  • Penalty-Funktionen, Constraints, Restraints und Rigid Bodies (RB)
  • Rietveld-Verfeinerung und Differenz-Fourier-Analyse
  • Quantitative Phasen-Analyse (QPA), Bestimmung des amorphen Anteils
  • Sequenzielle und parametrische Rietveld-Verfeinerung
  • Modelle zur Beschreibung von Stapelfehlern
  • Alternative Beschreibung der Kristallstruktur (Symmetriemethoden)
  • Anwendung der Paarverteilungsfunktion (Total scattering)

Über die Kursleitung

Prof. Dr. Robert E. Dinnebier

Max-Planck-Institut für Festkörperforschung

Robert E. Dinnebier ist seit 2001 beim Max-Planck-Institut für Festkörperforschung beschäftigt, wo er die wissenschaftliche Einrichtung Röntgenographie leitet. Herr Dinnebier unterrichtet Kristallographie an
den Universitäten Stuttgart und Tübingen. Sein Hauptforschungsgebiet ist seit über 30 Jahren die Pulverdiffraktometrie mit über 400 Publikationen und mehreren Lehrbüchern. Er ist u.a. Aufsichtsratmitglied bei ICDD und Vorsitzender des Arbeitskreises Pulverdiffraktometrie der DGK.

Zeitplan

Veranstaltungstag 1
10:00 Begrüßung, Vorstellung, Organisation und Erwartungender Teilnehmer
10:15 Grundlagen: Laue-Funktion, Bragg’sche Gleichung,Debye-Gleichung, Scherrer-Formel, Rietveld-Formel
11:00 Reflexprofilfunktionen, Fundamentalparameter, WPPF Methoden (Pawley/LeBail/Rietveld)
11:45 Bestimmung der Instrumentenfunktion (mit Übungen)
12:30 Mittagspause
13:30 (An)isotrope Linienverbreiterungen, Mikrostrukturparameter(mit Übungen)
14:30 Kaffeepause
15:00 Sinn und Unsinn von Korrekturfaktoren für Reflex-Lage/Profil/Intensität
16:00 Indizierung und Raumgruppenbestimmung
17:00 Globale anstatt lokaler Optimierung: Kristallstrukturbestimmung mit der Rietveld-Methode (mit Übungen
18:15 Voraussichtliches Ende des ersten Veranstaltungstages
Veranstaltungstag 2
08:30 Einsatz von chemischen Wissen in der Rietveld Verfeinerung: Penalty-Funktionen, Constraints, Restraints und Rigid Bodies
09:30 Der Superstruktur-Ansatz zur Bestimmung und Verfeinerung von Stapelfehler-behafteten Kristallstrukturen (mit Übungen)
10:30 Kaffeepause
11:00 Rietveld-basierte Methoden der quantitativen Phasen-Analyse (QPA) mit Bestimmung des amorphen Anteils (mit Übungen)
12:30 Mittagspause
13:30 Alternative Beschreibung von Kristallstrukturen durch Symmetrie-Moden (mit Übungen)
14:30 Mittagspause
15:30 Verarbeitung großer Datenmengen: Sequenzielle und parametrische Rietveld Verfeinerung
16:00 Kombination von Rietveld und PDF Analyse (Total Scattering)
17:00 Voraussichtliches Ende der Veranstaltung

Zielgruppe

Chemiker, Pharmazeuten, Physiker, Mineralogen, Materialwissenschaftler und Ingenieure aus Forschung, Entwicklung und Qualitätskontrolle, die an Kristallstruktur, Mikrostruktur und Quantifizierung nano- bis mikrokristalliner Pulver interessiert sind (m/w/d).

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