Gebühr folgt
Für Nichtmitglieder
Moderne Rietveld-Analyse in der praktischen Übung
Kurs-ID: 389/23 & 389/24
Themen-Highlights
Rietveld Analyse
Paarverteilungsfunktion
Strukturbestimmung
Quantifizierung
Sequentielle/parametrische Verfeinerungen
Ziele & Inhalte
Die Rietveld-Analyse hat in den letzten Jahren gewaltige Fortschritte gemacht, wobei laufend neue Anwendungsfelder erschlossen werden. Ziel des Kurses ist es, den Teilnehmenden die moderne Rietveld-Analyse in Theorie und Praxis anhand einer Reihe von ausgearbeiteten Beispielen näherzubringen. Nach dem Kurs sollen die Teilnehmenden in der Lage sein, die Möglichkeiten und Grenzen der Methode zu kennen und einfache Rietveld-Analysen selbstständig durchführen zu können.
Highlights des Kurses:
- Grundlagen der Rietveld-Analyse
- Reflexprofilfunktionen, Fundamentalparameter, Pawley/LeBail-Fit
- Bestimmung der Instrumentenfunktion
- (An)isotrope Linienverbreiterungen, Mikrostrukturparameter
- Indizierung und Raumgruppenbestimmung
- Korrekturfaktoren und ihre Bedeutung
- Globale anstatt lokale Optimierung (Kristallstrukturbestimmung)
- Penalty-Funktionen, Constraints, Restraints und Rigid Bodies (RB)
- Rietveld-Verfeinerung und Differenz-Fourier-Analyse
- Quantitative Phasen-Analyse (QPA), Bestimmung des amorphen Anteils
- Sequenzielle und parametrische Rietveld-Verfeinerung
- Modelle zur Beschreibung von Stapelfehlern
- Alternative Beschreibung der Kristallstruktur (Symmetriemethoden)
- Anwendung der Paarverteilungsfunktion (Total scattering)
Über die Kursleitung
Max-Planck-Institut für Festkörperforschung
Robert E. Dinnebier ist seit 2001 beim Max-Planck-Institut für Festkörperforschung beschäftigt, wo er die wissenschaftliche Einrichtung Röntgenographie leitet. Herr Dinnebier unterrichtet Kristallographie an
den Universitäten Stuttgart und Tübingen. Sein Hauptforschungsgebiet ist seit über 30 Jahren die Pulverdiffraktometrie mit über 400 Publikationen und mehreren Lehrbüchern. Er ist u.a. Aufsichtsratmitglied bei ICDD und Vorsitzender des Arbeitskreises Pulverdiffraktometrie der DGK.
Zeitplan
| 1. Veranstaltungstag | |
| 10:00 | Begrüßung, Vorstellung, Organisation und Erwartungen der Teilnehmenden |
| 10:15 | Grundlagen: Laue-Funktion, Bragg’sche Gleichung,Debye-Gleichung, Scherrer-Formel, Rietveld-Formel |
| 11:00 | Reflexprofilfunktionen, Fundamentalparameter, WPPF Methoden (Pawley/LeBail/Rietveld) |
| 11:45 | Bestimmung der Instrumentenfunktion (mit Übungen) |
| 12:30 | Mittagspause |
| 13:30 | (An)isotrope Linienverbreiterungen, Mikrostrukturparameter (mit Übungen) |
| 14:30 | Kaffeepause |
| 15:00 | Sinn und Unsinn von Korrekturfaktoren für Reflex-Lage/Profil/Intensität |
| 16:00 | Indizierung und Raumgruppenbestimmung |
| 17:00 | Globale anstatt lokaler Optimierung: Kristallstrukturbestimmung mit der Rietveld-Methode (mit Übungen |
| 18:15 | Voraussichtliches Ende des ersten Veranstaltungstages |
| 19:00 | Ausklang des ersten Seminartages in informeller Runde auf Selbstzahler-Basis |
| 2. Veranstaltungstag | |
| 08:30 | Einsatz von chemischen Wissen in der Rietveld Verfeinerung: Penalty-Funktionen, Constraints, Restraints und Rigid Bodies |
| 09:30 | Der Superstruktur-Ansatz zur Bestimmung und Verfeinerung von Stapelfehler-behafteten Kristallstrukturen (mit Übungen) |
| 10:30 | Kaffeepause |
| 11:00 | Rietveld-basierte Methoden der quantitativen Phasen-Analyse (QPA) mit Bestimmung des amorphen Anteils (mit Übungen) |
| 12:30 | Mittagspause |
| 13:30 | Alternative Beschreibung von Kristallstrukturen durch Symmetrie-Moden (mit Übungen) |
| 14:30 | Kaffeepause |
| 15:30 | Verarbeitung großer Datenmengen: Sequenzielle und parametrische Rietveld Verfeinerung |
| 16:00 | Kombination von Rietveld und PDF Analyse (Total Scattering) |
| 17:00 | Voraussichtliches Ende der Veranstaltung |
Zielgruppe
Chemiker, Pharmazeuten, Physiker, Mineralogen, Materialwissenschaftler und Ingenieure aus Forschung, Entwicklung und Qualitätskontrolle, die an Kristallstruktur, Mikrostruktur und Quantifizierung nano- bis mikrokristalliner Pulver interessiert sind (m/w/d)